随着AI技术的快速兴起，服务器及计算设备对数据总线的吞吐量需求呈现指数级增长，以PCIe标准为例，为适应AI算力需求，其协议已升级至PCIe 5.0/6.0，信号频率突破32GT/s并向64GT/s迈进，通道配置从x1扩展至x32，通过倍增频率和通道数量实现大带宽传输，然而，更高的信号频率导致插入损耗呈指数级上升，引起信号幅度降低和失真，同时，PCB走线中的阻抗不连续性会引发信号反射和时序抖动，它们共同造成信号完整性的问题。

为应对这些挑战， PCIe阻抗测试需严格控制100Ω±10%的差分阻抗（PCB走线），并通过预加重、均衡技术补偿损耗，插入损耗达-12dB@9GHz时，需+6dB的均衡增益才能恢复有效信号。此外，PCIe 5.0要求使用超低损耗（Df≤0.002）覆铜板，并增加板层数以优化布线，但这也使阻抗控制成为核心难点。因此，从设计仿真到量产测试，阻抗一致性和损耗补偿能力已成为保障PCIe高带宽稳定传输的关键技术，准确、高效且便捷地测试插入损耗和阻抗成为市场的紧迫需求。